手持X射線熒光光譜儀按照不同的應(yīng)用領(lǐng)域可分為：有害元素分析儀，合分析儀、土壤分析儀、貴金屬分析儀和礦石分析儀等一系列型，其中手持式能量色散礦石分析儀已廣泛應(yīng)用于各類地質(zhì)礦樣多元素檢測(cè)和分析、礦渣精煉分析及考古研究中。檢測(cè)樣品包括從硫至鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。
手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級(jí)光電效應(yīng)或無效應(yīng)。所逐出的次級(jí)光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測(cè)出熒光X射線的波長(zhǎng),可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來得到待測(cè)元素的特息。

手持式光譜儀的應(yīng)用非常廣泛，涉及：電力、石化、考古、金屬加工、壓力容器、廢舊物資回收、航空航天、地質(zhì)勘探、礦山測(cè)繪、開采、礦石分選、礦產(chǎn)貿(mào)易、金屬冶煉、環(huán)境監(jiān)測(cè)、土壤監(jiān)測(cè)、玩具、服裝、鞋帽、電子產(chǎn)品等眾多領(lǐng)域。便宜、的手持式拉曼光譜儀正在迅速成為原料藥采購質(zhì)量控制的有力工具。拉曼光譜儀是未知化合物的有力工具，例如檢測(cè)高純度化學(xué)品、成分驗(yàn)證和高分子材料的表征。拉曼光譜儀器大受歡迎主要是由于現(xiàn)代儀器所配備的智能決策軟件和譜圖庫，使得它成為理想的分子指紋圖譜分析技術(shù)。不同于傳統(tǒng)的分子光譜技術(shù)，拉曼光譜儀可用于生產(chǎn)環(huán)境或現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用，因?yàn)樗墚a(chǎn)生尖銳、特異的譜峰，幾乎不需要樣品前處理或直接與樣品接觸。此外，它還具有特的能力，可以通過透明的包裝材料，如玻璃或塑料，直接測(cè)試樣品，并對(duì)光譜信息沒有任何干擾。手持式光譜儀正在成為原料藥采購中質(zhì)量控制的有力分析工具。其被廣泛接受的原因是，它用于倉庫化學(xué)品的識(shí)別，比傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)室分析技術(shù)更具成本效益。

手持合金光譜儀可分析黑色金屬、有色金屬、合金的化學(xué)成分，能幫助客戶在質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、防范、事故調(diào)查等現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用領(lǐng)域中，進(jìn)行合號(hào)鑒別、金屬成分分析，獲得準(zhǔn)確、可靠的分析檢測(cè)結(jié)果。 現(xiàn)場(chǎng)無損檢測(cè)。擁有廣泛、可自定義牌號(hào)庫，保證合金鑒別。

對(duì)于金屬制造行業(yè)來說 ,質(zhì)量控制和非常重要。材料檢驗(yàn)是確保金屬制品使用合格材質(zhì)的關(guān)鍵。如 果使用不合格的金屬合金,會(huì)引起災(zāi)難性事故,給企業(yè) 帶來巨大的經(jīng)濟(jì)損失。手持合金成分分析儀是檢測(cè)金屬材料是否合格的關(guān)鍵性手段。有了手持式合金分析儀，質(zhì)量控制以及檢測(cè)人員可以 在完全無損的條件下,每天地檢測(cè)上千個(gè)金屬合金樣 品。即使是普通工作人員也有把握地將大量的 樣 品 測(cè) 出 完 整 而 準(zhǔn)確 的 結(jié) 果 。測(cè)試時(shí)間是1~2秒,無需制備樣品,從金屬細(xì)絲到成品焊點(diǎn),螺釘, 金屬板 ——所有這些樣品都可以被手持分析儀檢測(cè)。
手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來源有： (1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時(shí)，可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變，從而引入誤差。 (2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時(shí)，激發(fā)的特征譜線會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí)，測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有所差別。 (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí)，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。 (5)要系統(tǒng)誤差，必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對(duì)結(jié)果。
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